База кодов ГОСТ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКАПолупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045Диоды

31.080.10. Диоды

1 2 3 4 5

  • ГОСТ 18986.8-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
    Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления
  • ГОСТ 18986.9-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
    Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
  • ГОСТ 18986.10-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
    Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance
    Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
    метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более;
    метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн
  • ГОСТ 18986.11-84.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
    Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods
    Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:
    для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц;
    для туннельных диодов
  • ГОСТ 18986.12-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
    Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode
    Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости
  • ГОСТ 18986.13-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
    Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage
    Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
  • ГОСТ 18986.14-85.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
    Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод.
    Стандарт не распространяется на стабилитроны
  • ГОСТ 18986.16-72.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока
    Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока
  • ГОСТ 18986.18-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости
    Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance
    Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости
  • ГОСТ 18986.19-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Варикапы. Метод измерения добротности
    Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor
    Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов

1 2 3 4 5

Вопрос-ответ
Заказ звонка